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型号:JDG-S3液晶数显立式光学计

  JDG-S3立式光学计是一般是用标准器(如量块)以比较法测量工件的尺寸。主要用于对五等量块,量棒,钢球,线形及平行平面状精密量具和零件的外形尺寸作精密测量,本仪器头部亦可作为一个独立体,在科研,生产过程控制及在线测量等方面,对被测件作微小位移测量,及对非金属如:薄膜、纸张等的厚度测量。

一. 产品简介
JDG-S3立式光学计是一般是用标准器(如量块)以比较法测量工件的尺寸。主要用于对五等量块,量棒,钢球,线形及平行平面状精密量具和零件的外形尺寸作精密测量,本仪器头部亦可作为一个独立体,在科研,生产过程控制及在线测量等方面,对被测件作微小位移测量,及对非金属如:薄膜、纸张等的厚度测量。
二. 技术规格
1.被测件最大长度:200 mm
2.直接测量范围:10mm
3.最小显示值:0.05μm
4.测量力:(2±0.2) N 
5.示值变动性:0.1 μm
6.最大不准确度:±0.25 μm
7.读数方式:液晶数字显示,3英寸液晶显示屏
8.最大测量误差:±(0.5+L/100)μm ,L是被测长度,以mm计 
9.仪器体积:300×170×410 mm
10.仪器重量:18 kg