本文标题:显微观察时对垂直一个光轴切片的干涉图的检测
信息分类:站内新闻 新闻来源：未知 发布时间：2015-9-23 11:27:48
显微观察时对垂直一个光轴切片的干涉图的检测
通常情况下我们通过所使用的检测垂直一个光轴切片的
二轴晶体物质的干涉图与斜交光轴切片与平行光轴面切
片的二轴晶体物质的干涉图。
而对于斜交光轴切片二轴晶体物质的干涉图则是一种比
较最常见到的检测晶体物质垂直于光轴切片的现象。
同时对于二轴平行光轴面切片的图像或是与一轴平行光
轴的切片则是一个相交的干涉图像，这样可以直接分辨
出视域区域。
而对于垂直一个光轴切片的物像成像则是一个相当于垂
直于切片一半的干涉图，它是与偏光显微镜中的上或是
下偏振动方向是平行的才行。
将本页加入收藏
下一篇：碳纤维鞘芯结构的偏光显微镜检测法
上一篇：如何进行放大照片的显影步骤
本文出自上海永亨光学仪器有限公司，本文地址：http://www.sgyiqi.com/xinwen/1840.html
工业显微镜测量显微镜视频显微镜专业的供应商
合作伙伴：http://www.xianweijing.org/显微镜百科
- 没有资料