本文标题:电子显微镜样品减薄技术、真空系统和电源系统
信息分类:站内新闻 新闻来源：未知 发布时间：2014-4-30 15:10:18
电子显微镜样品减薄技术、真空系统和电源系统
电子显微镜样品复型技术只能对样品表面性貌进行复制，不能对晶
体内部组织结构信息，受复型材料本身尺寸的限制，电镜的高分辨
率本领不能得到充分发挥，但对基体组织仍是表面性貌的复制。
在这种情况下样品减薄技术具有许多特点，特别是金属薄膜样品。
样品减薄技术可以最有效地发挥电镜的高分辨率本领。
电子显微镜样品减薄技术能够观察金属及其合金的内部结构和晶体
缺陷，并能对同一微区进行衍衬成像及电子衍射研究，把结构信息
联系起来。
电子显微镜样品减薄技术能够进行动态观察，研究在变温情况下相
变的生核长大过程，以及位错等晶体缺陷在引力下的运动与交互作用。
电子显微镜真空系统和电源系统作用是为保证电子光学系统正常工
作，防止样品污染提供高的真空度。
电子显微镜真空系统和电源系统在一般情况下要求保持真空度。 电
源系统由稳压，稳流及相应的安全保护电路所组成，其作用是提供扫
描电镜各部分所需的电源。
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