本文标题:硅氧烷涂层和在纸中涂覆样品检测显微镜
信息分类:行业动态 新闻来源：未知 发布时间：2017-10-3 23:31:36
硅氧烷涂层和在纸中涂覆样品检测显微镜
为了确保达到最佳激发，如果用途不同寸，采用不同的放射性
同位素很有必要。对硅氧烷涂层和在纸中的二氧化钛，采用铁—55
(Fe—55)源-因为铁—55的X射线比较柔和(低能量)，不会在试样中
穿越很远。而对于在膜上的银，则采用能量更高的镅—241源。
将试样放置在距离辐射源仅几毫米处，以达到比较高的灵敏度
。试样距激发源越近，对试样的辐射越有效。低能X射线(如硅元素
的X射线)很容易被环境吸收，应当进行氦净化。必要时，选择最佳
辐射和氦净化，大多数试样的计量时间一般在2nfin之内。
可以将不同元素和材料的校准曲线直接存储在仪器中以备调用
。校准曲线是通过测试一套已知试样或同一材料的标准试样建立起
来的，因为XFR是一项比较技术，所以，后续的分析工作与所使用
的校准曲线的精确度有关：
整体累积强度实际上是被分析元素和背景材料信号的合并，背
景强度可以随着材料的厚度或基础质量变化。可以通过测试未涂覆
或空白试样测定其中的差别，测定结果将自动合并到校准曲线。
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