本文标题:偏光显微检测时的晶体接触
信息分类:站内新闻 新闻来源：未知 发布时间：2015-9-27 14:08:15
偏光显微检测时的晶体接触
通常我们在使用偏光显微镜进行显微检测研究分析时，
则主要是根据两个晶体物质之间倾斜接触进行的。
在进行接触晶体之产间折射率大的面会比折射率小的晶
体之上，不会因为接触面的平行光照射到接触面从而进
入到介质当中。
因此两个相邻的倾斜晶体物质接触面，则是概括了晶体
检测表面上的突起与晶体单光偏振检测晶体表面时发现
晶体的表面是光滑的。
而在这种情况下作偏光显微检测的晶体物质，则是表面
显得比较粗糙的呈现麻点的粗糙表面晶质。
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